Διαγράμματα Ελέγχου | Μεταβλητότητα | Κατανομές πιθανότητας | Αριθμός ελαττωματικών | Αριθμός ελαττωμάτων | Χρόνοι μεταξύ συμβάντων | Control Charts | Variability | Probability distributions | Number of non-conforming units | Number of non-conformities | Time between events
1
6
20
Περιέχει : πίνακες, σχήματα, διαγράμματα
Στατιστικός Έλεγχος Διεργασίας / Γεώργιος Γεωργακάκος
Ως διεργασίες υψηλής ποιότητας ορίζονται εκείνες οι οποίες απαιτούν σχεδόν μηδενικές αστοχίες, κάτι το οποίο είναι απόρροια της τεχνολογικής εξέλιξης αλλά και του ανταγωνισμού που παρατηρείται στην παγκόσμια αγορά προϊόντων και υπηρεσιών. Σκοπός της παρούσας διπλωματικής εργασίας είναι η παρουσίαση σύγχρονων Διαγραμμάτων Ελέγχου για τον έλεγχο και την παρακολούθηση της μεταβλητότητας διεργασιών υψηλής ποιότητας. Τα διαγράμματα αυτά βασίζονται συνήθως σε συγκεκριμένα μοντέλα κατανομών πιθανότητας όπως η Γεωμετρική, η Αρνητική Διωνυμική, η Εκθετική, η Γάμμα και η Weibull κατανομή και ως επί το πλείστον απαιτούν ακριβή όρια πιθανότητας. Τα νέα Διαγράμματα Ελέγχου προσβλέπουν είτε στην αθροιστική καταμέτρηση των συμμορφούμενων μονάδων (cumulative counts of conforming, CCC) μεταξύ δυο αστοχιών ή μέχρι κάποιον αριθμό αστοχιών είτε στην παρακολούθηση του χρόνου μεταξύ συγκεκριμένων συμβάντων (time between events, TBE). Για να γίνει περισσότερο κατανοητή η εφαρμογή τους στην πράξη, παρουσιάζεται και ο τρόπος ανάπτυξης και κατασκευής τους με χρήση του στατιστικού πακέτου ΜΙΝΙΤΑΒ 17.
The scope of this dissertation is to present current Control Charts that are suitable for monitoring high quality processes. High quality processes are defined as those which demand near zero defects, as a result of technological advancement and competition which can be observed in universal market of products and services.
This MSc thesis consists of three chapters. In Chapter 1 we introduce the reader to the concept of high quality processes. We describe their characteristics, the problems that arise when traditional Statistical Process Control techniques are applied. Also, we provide (in general) what practitioners can do in order to overcome these problems. These are further explained later in the thesis.
In Chapter 2 we first discuss the relationship between quality and variation. Then we present the statistical design and application of the traditional control charts. The control chart is the main tool used in practice for monitoring process variation. Performance measures are also discussed.
Chapter 3 consists of the main content of this Thesis. Firstly, we describe the problem that arises during the application of traditional control charts for the monitoring of high quality processes. Afterwards, the most frequently used control charts for high quality processes are analytically presented. These charts are based on the use of suitable probability models such as the Geometric distribution, the Negative Binomial distribution, the Exponential distribution, the Gamma distribution and the Weibull distribution. When these control charts are applied, they require the use of exact probability limits. Moreover, they are based either on the cumulative counts of conforming (CCC) units between two failures or up to a certain number of failures as well as on the tracking of the time between events (TBE).
In a way to make these charts easier to understand, we present several numerical examples, either using real or simulated data. Also, we investigate whether the statistical software MINITAB 17 can provide solutions to the problem of monitoring a high-quality process. It seems that there are some ready procedures for constructing control charts for high quality processes with MINITAB. Finally, conclusions are given along with suggestions and directions for the practical use of the presented control charting procedures.
Items in Apothesis are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.
Κύρια Αρχεία Διατριβής
Διαγράμματα Ελέγχου για Υψηλής Ποιότητας Διεργασίες - Identifier: 79754
Internal display of the 79754 entity interconnections (Node labels correspond to identifiers)